離子源弧光室在半導體行業(yè)的應用案例

發(fā)布時間:2025-08-14
某芯片封裝廠為提升功率器件的擊穿電壓性能,在離子注入工序中引入大口徑離子源弧光室。該設備通過擴大等離子體生成區(qū)域,實現(xiàn)單次注入面積提升 30%,同時保持離子束能量穩(wěn)定,不僅縮短了加工時間,還使器件擊穿電壓平均值提高 15%,滿足了高端功率半導體的性能要求。

離子源弧光室在半導體芯片制造的離子注入環(huán)節(jié)發(fā)揮著關鍵作用,其性能穩(wěn)定性直接影響晶圓摻雜精度與生產(chǎn)效率。某半導體制造企業(yè)在 14nm 工藝芯片量產(chǎn)過程中,曾因傳統(tǒng)離子源弧光室的等離子體密度波動,導致晶圓摻雜均勻性偏差超過標準值,良率下降約 5%。通過更換適配的新型離子源弧光室,并優(yōu)化其內(nèi)部電極結構與氣體流量控制參數(shù),該企業(yè)成功將等離子體密度波動控制在 ±2% 以內(nèi),摻雜均勻性顯著改善,良率回升至正常水平。

另一案例中,某芯片封裝廠為提升功率器件的擊穿電壓性能,在離子注入工序中引入大口徑離子源弧光室。該設備通過擴大等離子體生成區(qū)域,實現(xiàn)單次注入面積提升 30%,同時保持離子束能量穩(wěn)定,不僅縮短了加工時間,還使器件擊穿電壓平均值提高 15%,滿足了高端功率半導體的性能要求。

在實際應用中,離子源弧光室的選型需結合工藝節(jié)點、晶圓尺寸及摻雜元素類型綜合判斷。上述案例表明,適配的離子源弧光室能有效解決半導體制造中的精度與效率問題,為先進制程的穩(wěn)定量產(chǎn)提供可靠支持。